NUOVO SSD M.2 PCIE NVME 256GB 512GB 1T 2T HG2283 più HYNIX V7

                                               M.2 2280 S2 NVME SSD HG2283 più Hynix V7

1. SPECIFICHE DEL PRODOTTO

Capacità

− 128 GB, 256 GB, 512 GB, 1024 GB, 2048 GB

− Supporta 32-la modalità di indirizzamento bit

Interfaccia elettrica/fisica

− Interfaccia PCIe

− Conforme a NVMe 1.3

− Base PCIe Express versione 3.1

− PCIe Gen 3 x 4 lane e retrocompatibile con PCIe Gen 2 e Gen 1

− Supporto fino a QD 128 con profondità di coda fino a 64K

− Supportare la gestione dell'alimentazione

Flash NAND supportato

− Supporto fino a 16 Flash Chip Enables (CE) all'interno di un unico progetto

− Supporta fino a 4 pezzi di flash BGA132

− Supporto 8-bit I/O NAND Flash

− Supporta l'interfaccia Toggle2.0, Toggle3.0, ONFI 2.3, ONFI 3.0, ONFI 3.2 e ONFI 4.0

Samsung V6 3D NAND

Hynix V7 3D NAND

Schema ECC

− HG2283 PCIe SSD applica LDPC dell'algoritmo ECC.

Supporto delle dimensioni del settore

   − 512B

− 4KB

UART/ GPIO

Supporta i comandi SMART e TRIM

Gamma LBA

− Norma IDEMA

Prestazione                 

Prestazioni di HG2283 più Hynix V7 (1200 Mbps)

APPUNTI:

1. Le prestazioni si basano su flash NAND TLC Hynix V7.

CONSUMO DI ENERGIA

APPUNTI:

1. Dati misurati basati su Hynix V7 512Gb mono die TLC Flash.

2. Il consumo energetico viene misurato durante le operazioni sequenziali di lettura e scrittura eseguite da IOMeter.

Gestione Flash

1.4.1. Codice di correzione degli errori (ECC)

Le celle di memoria flash si deteriorano con l'uso, il che potrebbe generare errori di bit casuali nei dati memorizzati. Pertanto, l'SSD PCIe HG2283 applica l'algoritmo LDPC (Low Density Parity Check) dell'ECC, che può rilevare e correggere gli errori che si verificano durante il processo di lettura, garantire che i dati siano stati letti correttamente e proteggere i dati dalla corruzione.

1.4.2. Indossare il livellamento

I dispositivi flash NAND possono essere sottoposti solo a un numero limitato di cicli di programmazione/cancellazione, quando i supporti flash non vengono utilizzati in modo uniforme, alcuni blocchi vengono aggiornati più frequentemente di altri e la durata del dispositivo si ridurrebbe in modo significativo. Pertanto, il livellamento dell'usura viene applicato per estendere la durata della memoria flash NAND distribuendo uniformemente i cicli di scrittura e cancellazione sui supporti.

HosinGlobal fornisce un algoritmo avanzato di livellamento dell'usura, che può distribuire in modo efficiente l'utilizzo del flash nell'intera area dei supporti flash. Inoltre, implementando algoritmi di livellamento dell'usura sia dinamici che statici, l'aspettativa di vita del flash NAND è notevolmente migliorata.

1.4.3. Gestione dei blocchi difettosi

I blocchi danneggiati sono blocchi che non funzionano correttamente o contengono più bit non validi che rendono instabili i dati memorizzati e la loro affidabilità non è garantita. I blocchi identificati e contrassegnati come non validi dal produttore sono indicati come "Early Bad Blocks". I blocchi difettosi sviluppati durante la durata della memoria flash sono denominati "Later Bad Blocks". HosinGlobal implementa un efficiente algoritmo di gestione dei blocchi danneggiati per rilevare i blocchi danneggiati prodotti in fabbrica e gestisce i blocchi danneggiati che compaiono con l'uso. Questa pratica impedisce che i dati vengano archiviati in blocchi danneggiati e migliora ulteriormente l'affidabilità dei dati.

1.4.4. ORDINARE

TRIM è una funzione che aiuta a migliorare le prestazioni di lettura/scrittura e la velocità delle unità a stato solido (SSD). A differenza dei dischi rigidi (HDD), gli SSD non sono in grado di sovrascrivere i dati esistenti, quindi lo spazio disponibile si riduce gradualmente a ogni utilizzo. Con il comando TRIM, il sistema operativo può informare l'SSD in modo che i blocchi di dati non più utilizzati possano essere rimossi in modo permanente. Pertanto, l'SSD eseguirà l'azione di cancellazione, che impedisce ai dati inutilizzati di occupare i blocchi in ogni momento.

1.4.5. ACCORTO

SMART, acronimo di Self-Monitoring, Analysis and Reporting Technology, è uno standard aperto che consente a un'unità a stato solido di rilevare automaticamente la propria integrità e segnalare potenziali guasti. Quando un guasto viene registrato da SMART, gli utenti possono scegliere di sostituire l'unità per evitare interruzioni impreviste o perdite di dati. Inoltre, SMART può informare gli utenti di guasti imminenti mentre c'è ancora tempo per eseguire azioni proattive, come il salvataggio dei dati su un altro dispositivo.

1.4.6. Over-fornitura

Over Provisioning si riferisce alla conservazione di un'area aggiuntiva oltre la capacità dell'utente in un SSD, che non è visibile agli utenti e non può essere utilizzata da loro. Tuttavia, consente a un controller SSD di utilizzare spazio aggiuntivo per prestazioni e WAF migliori. Con Over Provisioning, le prestazioni e gli IOPS (operazioni di input/output al secondo) vengono migliorati fornendo al controller spazio aggiuntivo per gestire i cicli P/E, il che migliora anche l'affidabilità e la resistenza. Inoltre, l'amplificazione in scrittura dell'SSD diminuisce quando il

il controller scrive i dati sulla flash.

1.4.7. Aggiornamento del firmware

Il firmware può essere considerato come un insieme di istruzioni su come il dispositivo comunica con l'host. Il firmware sarà aggiornabile quando vengono aggiunte nuove funzionalità, i problemi di compatibilità vengono risolti o le prestazioni di lettura/scrittura vengono migliorate.

1.4.8. Limitazione termica

Lo scopo della limitazione termica è impedire il surriscaldamento dei componenti di un SSD durante le operazioni di lettura e scrittura. HG2283 è progettato con un sensore termico on-die e con la sua precisione; il firmware può applicare diversi livelli di limitazione per raggiungere lo scopo della protezione in modo efficiente e proattivo tramite la lettura SMART.

1.5. Funzioni avanzate di sicurezza del dispositivo

1.5.1. Cancellazione sicura

Secure Erase è un comando di formato NVMe standard e scriverà tutte le "0x00" per cancellare completamente tutti i dati su dischi rigidi e SSD. Quando viene emesso questo comando, il controller SSD cancellerà i suoi blocchi di archiviazione e tornerà alle impostazioni predefinite di fabbrica.

1.5.2. Cancellazione crittografica

Crypto Erase è una funzione che cancella tutti i dati di un'unità SSD attivata da OPAL o di un'unità "SED" (Security-Enabled Disk) reimpostando la chiave crittografica del disco. Poiché la chiave viene modificata, i dati precedentemente crittografati diventeranno inutili, raggiungendo lo scopo della sicurezza dei dati.

1.5.3. Presenza fisica SID (PSID)

Physical Presence SID (PSID) è definito da TCG OPAL come una stringa di 32-caratteri e lo scopo è riportare l'SSD alle impostazioni di produzione quando l'unità è ancora attivata da OPAL. Il codice PSID può essere stampato su un'etichetta SSD quando un SSD attivato da OPAL supporta la funzione di ripristino PSID.

1.6. Gestione della vita dell'SSD

1.6.1. Terabyte scritti (TBW)

TBW (Terabyte scritti) è una misura della durata prevista degli SSD, che rappresenta la quantità di dati

scritto sul dispositivo. Per calcolare il TBW di un SSD, viene applicata la seguente equazione:

TBW = [(Resistenza NAND) x (Capacità SSD)] / [WAF]

Resistenza NAND: la resistenza NAND si riferisce al ciclo P/E (programma/cancellazione) di un flash NAND.

Capacità SSD: La capacità SSD è la capacità specifica totale di un SSD.

WAF: Write Amplification Factor (WAF) è un valore numerico che rappresenta il rapporto tra la quantità di dati che un controller SSD deve scrivere e la quantità di dati che scrive il controller flash dell'host. Un WAF migliore, che è vicino a 1, garantisce una migliore resistenza e una frequenza inferiore dei dati scritti nella memoria flash.

TBW in questo documento si basa sul carico di lavoro JEDEC 218/219.

1.6.2. Indicatore di usura dei supporti

L'indicatore di durata effettiva riportato dall'indice di byte dell'attributo SMART [5], Percentuale utilizzata, consiglia all'utente di sostituire l'unità quando raggiunge il 100%.

1.6.3. Modalità di sola lettura (fine del ciclo di vita)

Quando l'unità è invecchiata da cicli di programma/cancellazione accumulati, l'usura dei supporti può causare un numero crescente di successivi blocchi danneggiati. Quando il numero di blocchi validi utilizzabili non rientra in un intervallo utilizzabile definito, l'unità avviserà l'host tramite l'evento AER e l'avviso critico di entrare in modalità di sola lettura per evitare un ulteriore danneggiamento dei dati. L'utente dovrebbe iniziare a sostituire immediatamente l'unità con un'altra.

1.7. Approccio adattivo all'ottimizzazione delle prestazioni

1.7.1. Portata

In base allo spazio disponibile sul disco, HG2283 regolerà la velocità di lettura/scrittura e gestirà le prestazioni del throughput. Quando rimane ancora molto spazio, il firmware eseguirà continuamente azioni di lettura/scrittura. Non è ancora necessario implementare la Garbage Collection per allocare e rilasciare memoria, che accelererà l'elaborazione di lettura/scrittura per migliorare le prestazioni. Al contrario, quando lo spazio sta per essere esaurito, HG2283 rallenterà l'elaborazione di lettura/scrittura e implementerà la raccolta dei rifiuti per liberare memoria. Pertanto, le prestazioni di lettura/scrittura diventeranno più lente.

1.7.2. Prevedi e recupera

Normalmente, quando l'host tenta di leggere i dati dall'SSD PCIe, l'SSD PCIe eseguirà solo un'azione di lettura dopo aver ricevuto un comando. Tuttavia, HG2283 applica Predict & Fetch per migliorare la velocità di lettura. Quando l'host invia comandi di lettura sequenziali all'SSD PCIe, l'SSD PCIe si aspetterà automaticamente che anche i seguenti siano comandi di lettura. Pertanto, prima di ricevere il comando successivo, flash ha già preparato i dati. Di conseguenza, questo accelera il tempo di elaborazione dei dati e l'host non deve attendere così tanto per ricevere i dati.

1.7.3. Cache SLC

Il design del firmware di HG2283 adotta attualmente la memorizzazione nella cache dinamica per offrire prestazioni migliori per una migliore resistenza e un'esperienza utente migliore.

7. DIMENSIONE FISICA

Fattore di forma: M.2 2280 S2

Dimensioni: 80,00mm (lunghezza) x 22,00mm (larghezza) x 2,15 mm (altezza)

 

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Superiore
Metter il fondo a
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Lato

Figura 7-1 Schema meccanico e dimensioni del prodotto

 

8. NOTE APPLICATIVE

8.1. Precauzioni per la manipolazione del Wafer Level Chip Scale Packaging (WLCSP).

Ci sono molti componenti assemblati su un singolo dispositivo SSD. Si prega di maneggiare l'unità con cura, specialmente quando ha componenti WLCSP (Wafer Level Chip Scale Packaging) come PMIC, sensore termico o interruttore di carico. WLCSP è una delle tecnologie di imballaggio ampiamente adottate per creare ingombri ridotti, ma eventuali urti o graffi possono danneggiare quelle parti ultrapiccole, pertanto si consiglia vivamente una manipolazione delicata.

 

NON FAR CADERE SSD

INSTALLA SSD CON CURA

TORE SSD IN UN PACCHETTO APPROPRIATO

 

8.2. M Key M.2 Precauzioni per l'assemblaggio dell'unità SSD

M Key M.2 SSD (Figura 1) è compatibile solo con il socket M Key (Figura 2). Come mostrato nel caso d'uso 2, l'uso improprio può causare gravi danni all'SSD, incluso il burn-out.

 

 

Figura 8-1 Tasto M M.2 Precauzioni per il montaggio

 

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